Elektroniska sprängkapslar
Som marknadsledare inom elektroniska tändsystem arbetar vi konstant med att göra våra produkter säkrare, mer tillförlitliga och effektiva – Vilket bidrar till att du kan uppnå ett optimalt sprängresultat.
Orica har forskat på utformning och prestanda av elektroniska tändsystem sedan 1980-talet. Fram tills idag har vi producerat 35 miljoner elektroniska sprängkapslar vid vår anläggning i Brownsburg, Kanada, som är i världsklass. Vi har gjort detta utan olyckor, varken vid tillverkning eller användande.
Vår nästa generation av elektroniska tändsystem är resultatet av 20 års laboratorietester och 12 års fälttester. Hjärtat i våra system är den elektroniska fördröjningsmodulen. Modulen erbjuder upp till 1000 X bättre noggrannhet och väsentligt mer flexibilitet i upptändning och kontroll av salvan energi, jämfört med traditionella pyrotekniska tändsystem. I rätta händer ger den avsevärda produktivitetsförbättringar genom bättre fragmentering, utformning av salvhög, vibrationskontroll, större salvor, bättre/stabilare kontur, samt mindre överberg, skador och bergförstärkning.
Med det stora spannet av elektroniska tändsystem, kan Orica möta kundens behov vid gruvdrift ovan- och under jord, vid tunnelsprängning, i bergtäkter och andra entreprenadarbeten.
Live the i-kon™ III experience and unlock value for your business. Complete more blasts within the firing window with minimal set-up and equipment. Maximize production by blasting more locations Underground or over larger distances in Open Cut.
mer
Uni tronic™ 600 är ett av tre system i ”Next Generation” som medför betydande framsteg inom bergsprängning. Systemets kärna består av ett sofistikerat ASIC kretskort med förbättrad säkerhet och pålitlighet. Med nya funktioner som test av salva direkt på pall och förbättrad exakthet i steg om en millisekund erhålls fördelar både vad gäller effektivitet och prestanda.
mer
The eDev™ II system has been built specifically for application in both Underground Development and Civil Tunnel Blasting and features at-face testability and the Load by Numbers technique.
mer